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偏振相关损耗测试仪PDL-201
采用专利最大最小搜索技术,PDL测试仪能在30ms内,同时测量待测器件的偏振相关损耗(PDL),插入损耗(IL)和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。
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偏振相关损耗测量仪PDL-201
搜索技术,通用光电公司的PDL测量仪能在30 ms内,同时测量待测器件的偏振相关损耗(PDL),插入损耗(IL)和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同,PolaCHEXTM
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SALD-201V粒度分析仪
SALD® 201V粒度分析仪是一个便捷、经济的仪器,具有高性能、高可靠性,广泛应用于食品、液体、化妆品和制药领域。其测量范围为0.25到350µm,适用于大部分常规分析需求。
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斯派克偏振 SPECTRO XEPOS 偏振能散X荧光光谱仪
SPECTRO XEPOS光谱仪的出色性能足以将价格昂贵的WD-XRF波长色散X射线荧光光谱仪“挑落马下”,同时还大大降低了成本。此外,经过深度优化、重新设计的操作软件也能够帮助客户大幅简化操作
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快速扫描测量系统
快速扫描测量系统整合了TSL 可调谐激光器、MPM 光功率计、PCU 偏振控制器及根据用户需求自定义的软件,为R&D 及生产环境的IL、WDL、PDL 测试提供快速、多功能、全自动的平台
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OTF-930 可编程可调谐滤波器
OTF-930 采用镀膜滤光片,是一款偏振无关的80nm 范围自动可调谐滤波器。Santec 独特的“Linear Sliding”技术使其可在PDL,带宽和插损不变的情况下进行精确的连续波长
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SPECTRO XEPOS偏振能散X荧光光谱仪
SPECTRO XEPOS光谱仪这一令人称奇的全新仪器采用了元素激发和光谱检测技术的最新研究成果,具有最无与伦比的灵敏度和最优秀的检测极限,同时具有极高的检测精度和准确度。
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斯派克SPECTROCUBE 偏振能量色散X荧光分析仪
SPECTROCUBE型分析仪采用了领先的高分辨、高计数检测器技术,缩短了样品的测量间隔,仪器软件直观、简捷,测试流程轻松流畅,大大减少了宕机时间。 SPECTROCUBE型X射线贵金属测试仪所采用
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POD-201高速偏振态分析仪
产品概述POD-201是一款基于FPGA的偏振器,用于高速偏振态分析和监测。它采用四个通道同时获得的四个Stokes参量,测量出输入光的瞬时偏振态(SOP)和偏振度(DOP)。
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多通道功率计MPM-210
高精度,高线性度,极低偏振依赖。可测量1250~1650nm 范围内-80~ +10dBm 的光功率,提供GPIB、RS232、TCP/IP 通讯介面MPM-210 为插入损耗(IL)、偏振依赖损耗
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